6 Einträge gefunden

1. Is the gain-voltage dependence of SiPMs linear?

   1. Antonello, M.
   2. Brinkmann, L.
   3. Garutti, E.; id_orcid 0000-0003-0634-5539
   4. Klanner, Robert
   5. Schwandt, J.

   2025 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
2. Study of the V⁰₂ state in neutron-irradiated silicon using photon-absorption measurements

   1. Fretwurst, E.
   2. Klanner, R.
   3. Schwandt, J.
   4. Vauth, A.

   2023 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Study of depth-dependent charge collection profiles in irradiated pad diodes

   1. Hajheidari, M.
   2. Antonello, M.
   3. Garutti, E.; id_orcid 0000-0003-0634-5539
   4. Klanner, R.
   5. Schwandt, J.
   6. Steinbrück, G.

   2023 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Radiation hardness study using SiPMs with single-cell readout

   1. Bychkova, O.
   2. Parygin, P.
   3. Garutti, E.; id_orcid 0000-0003-0634-5539
   4. Kaminsky, A.
   5. Martens, S.
   6. Popova, E.
   7. Schwandt, J.

   2022 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
5. Study of the band-gap energy of radiation-damaged silicon

   1. Klanner, R.
   2. Martens, S.
   3. Schwandt, J.
   4. Vauth, A.

   2022 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
6. Radiation damage uniformity in a SiPM

   1. Bychkova, O.
   2. Garutti, E.; id_orcid 0000-0003-0634-5539
   3. Popova, E.
   4. Stifutkin, A.
   5. Martens, S.
   6. Parygin, P.
   7. Kaminsky, A.

   2022 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich