3 Einträge gefunden

1. Charakterisierung integriert-optischer Silizium-Wellenleiter

   1. Müller, Jost

   2013 - TUHH Open Research - frei zugänglich
2. Scanning phase-mask DUV inscription of short-period large-area photoresist gratings

   1. Huster, Jens
   2. Müller, Jost
   3. Renner, Hagen
   4. Brinkmeyer, Ernst

   2011 - TUHH Open Research
3. Characterizing silicon waveguides : local attenuation and distributed reflectivity

   1. Müller, Jost
   2. Brinkmeyer, Ernst

   2011 - TUHH Open Research