9 Einträge gefunden

1. On the timing performance of thin planar silicon sensors

   1. Akchurin, N.
   2. Ciriolo, V.
   3. Currás, E.
   4. Damgov, J.
   5. Fernández, M.
   6. Gallrapp, C.
   7. Gray, L.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Atomic Layer Deposition (ALD) grown thin films for ultra-fine pitch pixel detectors

   1. Härkönen, J.
   2. Ott, J.
   3. Mäkelä, M.
   4. Arsenovich, T.
   5. Gädda, A.
   6. Peltola, T.
   7. Tuovinen, E.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Processing of n+/p-/p+ strip detectors with atomic layer deposition (ALD) grown Al2O3 field insulator on magnetic Czochralski silicon (MCz-si) substrates

   1. Härkönen, J.
   2. Tuovinen, E.
   3. Luukka, P.
   4. Gädda, A.
   5. Mäenpää, T.
   6. Tuominen, E.
   7. Arsenovich, T.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Processing and characterization of epitaxial GaAs radiation detectors

   1. Wu, X.
   2. Peltola, T.
   3. Arsenovich, T.
   4. Gädda, A.
   5. Härkönen, J.
   6. Junkes, Alexandra
   7. Karadzhinova, A.

   2015 - Forschungsinformationssystem der UHH
5. Impact of low-dose electron irradiation on the charge collection of n+p silicon strip sensors

   1. Klanner, Robert
   2. Erfle, Joachim
   3. Fretwurst, Eckart
   4. Garutti, Erika
   5. Henkel, Christian
   6. Junkes, Alexandra
   7. Schuwalow, Sergej

   2014 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
6. A contribution to the identification of the E5 defect level as tri-vacancy (V3)

   1. Junkes, Alexandra
   2. Pintilie, I.
   3. Fretwurst, E.
   4. Eckstein, D.

   2012 - Forschungsinformationssystem der UHH
7. Influence of radiation induced defect clusters on silicon particle detectors

   1. Junkes, Alexandra

   2011 - Forschungsinformationssystem der UHH
8. Annealing study of a bistable cluster defect

   1. Junkes, Alexandra
   2. Eckstein, D.
   3. Pintilie, I.
   4. Makarenko, L.F.
   5. Fretwurst, E.

   2010 - Forschungsinformationssystem der UHH
9. Radiation-induced point- and cluster-related defects with strong impact on damage properties of silicon detectors

   1. Pintilie, I.
   2. Lindstroem, G.
   3. Junkes, Alexandra
   4. Fretwurst, E.

   2009 - Forschungsinformationssystem der UHH