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1. Focusing hard x rays beyond the critical angle of total reflection by adiabatically focusing lenses

   1. Patommel, J.
   2. Klare, S.
   3. Hoppe, R.
   4. Ritter, S.
   5. Samberg, D.
   6. Wittwer, F.
   7. Jahn, A.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Beamstop-based low-background ptychography to image weakly scattering objects

   1. Reinhardt, J.
   2. Hoppe, R.
   3. Hofmann, G.
   4. Damsgaard, C.D.
   5. Patommel, J.
   6. Baumbach, C.
   7. Baier, S.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Hard x-ray nanoprobe of beamline P06 at PETRA III

   1. Schroer, Christian Gustav
   2. Baumbach, C.
   3. Döhrmann, R.
   4. Klare, S.
   5. Hoppe, R.
   6. Kahnt, M.
   7. Patommel, J.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Hard x-ray nanofocusing by refractive lenses of constant thickness

   1. Seiboth, F.
   2. Scholz, M.
   3. Patommel, J.
   4. Hoppe, R.
   5. Wittwer, F.
   6. Reinhardt, J.
   7. Seidel, J.

   2014 - Forschungsinformationssystem der UHH