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1. Electronic properties of etched-regrown heterostructure interfaces

   1. Beyer, S.
   2. Lohr, S.
   3. Heyn, Ch.
   4. Heitmann, D.
   5. Hansen, W.

   2003 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Etching temperature dependent mobilities up to 190.000 cm²/Vs at chlorine etched and regrown interfaces

   1. Beyer, S.
   2. Lohr, S.
   3. Heyn, Ch.
   4. Heitmann, D.
   5. Hansen, W.

   2002 - Forschungsinformationssystem der UHH