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Einrichtung
Medientyp
- Text 1
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Erscheinungsjahr
- 2008 1
Autor/in
- Domdey, Andreas
- Hafkemeyer, Kristian M. 1
- Krautschneider, Wolfgang 1
- Schröder, Dietmar 1
Sprache
- Englisch 1
1 Einträge gefunden
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Simultaneous large-scale reliability analysis of ultra-thin MOS gate dielectrics using an automated test system
2008 - TUHH Open Research - frei zugänglich