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- Text 1
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Autor/in
- Domdey, Andreas 1
- Hafkemeyer, Kristian M. 1
- Krautschneider, Wolfgang
- Schröder, Dietmar 1
Sprache
- Englisch 1
1 Einträge gefunden
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Simultaneous large-scale reliability analysis of ultra-thin MOS gate dielectrics using an automated test system
2008 - TUHH Open Research - frei zugänglich