4 Einträge gefunden

1. Surface effects in segmented silicon sensors

   1. Schwandt, Jörn
   2. Fretwurst, E.
   3. Garutti, Erika
   4. Klanner, Robert
   5. Kopsalis, I.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Determination of the p-spray profile for n+p silicon sensors using a MOSFET

   1. Fretwurst, E.
   2. Garutti, Erika
   3. Klanner, Robert
   4. Kopsalis, I.
   5. Schwandt, Jörn
   6. Weberpals, M.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Defect spectroscopy of proton-irradiated thin p-type silicon sensors

   1. Donegani, E.M.
   2. Fretwurst, E.
   3. Garutti, Erika

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. The influence of edge effects on the determination of the doping profile of silicon pad diodes

   1. Fretwurst, E.
   2. Garutti, Erika
   3. Hufschmidt, M.
   4. Klanner, Robert
   5. Kopsalis, I.
   6. Schwandt, Jörn

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH