X-ray radiation damage studies and design of a silicon pixel sensor for science at the XFEL

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Autor/in:
Verlag/Körperschaft:
DESY
Erscheinungsjahr:
2013
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Sensorik
  • Halbleiterphysik
  • Spektroskopie
  • Sensortechnik
  • MOS-FET
  • Messtechnik
  • Röntgenographie
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/b1f5bea2-6f46-4717-a5dc-bbab2100457c