Cyber Physical Test System : A novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

Link:

http://hdl.handle.net/20.500.12738/11229

Autor/in:

Verlag/Körperschaft:

IEEE

Erscheinungsjahr:

2019

Medientyp:

Text

Schlagworte:

ATE
cloud computing
CPS
FPGA
functional testing
IoT
SoPC
620: Ingenieurwissenschaften
ddc:620

Beschreibung:

Bundesministerium für Wirtschaft und Energie
PeerReviewed

Quellsystem:

ReposIt

Interne Metadaten

Quelldatensatz: oai:reposit.haw-hamburg.de:20.500.12738/11229