Characterization and correction of multilayer X-ray optics

Link:
Autor/in:
Beteiligte Person:
  • Bajt, Saša
Verlag/Körperschaft:
Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg Carl von Ossietzky
Erscheinungsjahr:
2024
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Correction
  • Optics
  • Multilayer
  • Characterization
  • X-ray
  • 530: Physik
  • 33.18: Optik
  • ddc:530:
Lizenzen:
  • http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
  • info:eu-repo/semantics/openAccess
  • https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Quellsystem:
E-Dissertationen der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:ediss.sub.uni-hamburg.de:ediss/11535