Towards automatic and flexible unit test generation for legacy HPC code

Link:

https://doi.org/10.1109/SE-HPCCSE.2016.005

Autor/in:

Verlag/Körperschaft:

IEEE

Erscheinungsjahr:

2016

Medientyp:

Text

Lizenz:

info:eu-repo/semantics/closedAccess

Quellsystem:

Forschungsinformationssystem der UHH

Interne Metadaten

Quelldatensatz: oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/5029607b-61df-4208-aa40-1252511da346