Ptychographic X-ray speckle tracking with multi-layer Laue lens systems

Link:
Autor/in:
Erscheinungsjahr:
2020
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • X Ray Microscope
  • Hard X-Ray
  • Laser Plasmas
  • X Ray Optics
  • Phase Contrast
  • Synchrotron Radiation
  • X Ray Microscope
  • Hard X-Ray
  • Laser Plasmas
  • X Ray Optics
  • Phase Contrast
  • Synchrotron Radiation
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/7ac16ac7-b4e0-46c6-911d-1a4ec1618ea4