Mapping the continuous reciprocal space intensity distribution of X-ray serial crystallography

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Autor/in:
Erscheinungsjahr:
2014
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Crystallography, X-Ray
  • Electrons
  • Imaging, Three-Dimensional
  • Lasers
  • Molecular Conformation
  • X-Ray Diffraction
Beschreibung:

Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/99ce4d6b-6ae1-48cb-b3eb-b712d4b9c09a