An assessment of the resolution limitation due to radiation-damage in X-ray diffraction microscopy

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Autor/in:
Erscheinungsjahr:
2009
Medientyp:
Text
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
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Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/d74cf550-f486-4f56-8383-c4f4d3334c50