Identifying well-oriented diffraction patterns in XFEL datasets

Link:

https://doi.org/10.1109/IVCNZ.2016.7804463

Autor/in:

Beteiligte Person:

Bailey, Donald

Verlag/Körperschaft:

IEEE

Erscheinungsjahr:

2016

Medientyp:

Text

Lizenz:

info:eu-repo/semantics/closedAccess

Quellsystem:

Forschungsinformationssystem der UHH

Interne Metadaten

Quelldatensatz: oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/79ed1391-3773-43bc-9bbf-660c229ae539