Generation and characterization of electron bunches with ramped current profile at the FLASH facility

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Autor/in:
Erscheinungsjahr:
2011
Medientyp:
Text
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/e64015b3-0fa8-4cdb-9d40-e9ee8cea87db