FPGA-based digital twins to evaluate test coverage of behavioral failure modes

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Autor/in:
Verlag/Körperschaft:
IEEE
Erscheinungsjahr:
2024
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Automatic Test Equipment (ATE)
  • Digital Twin
  • Field Programmable Gate Array (FPGA)
  • Failure Modes Effect Analysis (FMEA)
  • Test Coverage
  • 620: Ingenieurwissenschaften
  • ddc:620
Beschreibung:
  • PeerReviewed
Quellsystem:
ReposIt
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:reposit.haw-hamburg.de:20.500.12738/16727