An approach for automated scale invariant STM-scan matching using SIFT
- Link:
- Autor/in:
- Beteiligte Person:
-
- Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Verlag/Körperschaft:
- IEEE
- Erscheinungsjahr:
- 2010
- Medientyp:
- Text
- Lizenz:
-
- info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
- Quellsystem:
- Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
- Quelldatensatz
- oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/a6ce5678-6679-49cc-aaa6-29d0f5b7d4d6