Scanning Tunneling Microscopy

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Autor/in:
Beteiligte Personen:
  • Amelickx, S.
  • van Dyck, D.
  • van Landuyt, J.
  • van Tendeloo, G.
Verlag/Körperschaft:
Wiley/Blackwell
Erscheinungsjahr:
2008
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Electrodes
  • Perturbation theory
  • Platinum-iridium alloy wire
  • Scanning tunneling microscopy
  • Semiconductor
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/closedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/534a7ea2-be95-4443-aa1a-455ee9fdbf10