Magnetic exchange force microscopy and spectroscopy on Fe/W(001)

Link:
Autor/in:
Verlag/Körperschaft:
Cuvillier
Erscheinungsjahr:
2011
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Eisen
  • Kristallfläche
  • Wolfram
  • Dünne Schicht
  • Rasterkraftmikroskopie
  • Oberflächen
  • Dünne Schichten
  • Grenzflächen
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/c206a493-d6bb-4dd3-bd2c-acb3eb0753f6