Region of interest synchrotron nanotomography and nanodiffraction with FIB/SEM characterisation on engineering materials = Bereichsselektive Synchrotron Nanotomographie und Nanodiffraktion mit FIB/SEM Charakterisierung von Werkstoffen

Link:
Autor/in:
Verlag/Körperschaft:
Helmholtz-Zentrum Geesthacht, Zentrum für Material- und Küstenforschung
Erscheinungsjahr:
2015
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
  • Synchrotronstrahlung
  • Tomografie
  • Rasterelektronenmikroskop
  • Nanometerbereich
  • Beugung
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/openAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/9a1ceb8b-eb28-42b8-bc43-e9aac88cca77