A ray-trace analysis of x-ray multilayer Laue lenses for nanometer focusing

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Autor/in:
Erscheinungsjahr:
2020
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • X Ray Microscope
  • Hard X-Ray
  • Laser Plasmas
  • X Ray Optics
  • Phase Contrast
  • Synchrotron Radiation
  • X Ray Microscope
  • Hard X-Ray
  • Laser Plasmas
  • X Ray Optics
  • Phase Contrast
  • Synchrotron Radiation
Lizenz:
  • info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Quellsystem:
Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/43068368-15b9-49f2-b986-bef294c66706