Hard x-ray nanobeam characterization by coherent diffraction microscopy

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Autor/in:
Verlag/Körperschaft:
AIP Publishing
Erscheinungsjahr:
2010
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Holographic interferometry
  • Coherent diffraction
  • X ray microscopes
  • 530: Physik
  • ddc:530
Beschreibung:
  • PeerReviewed
Quellsystem:
ReposIt
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:reposit.haw-hamburg.de:20.500.12738/15683