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Effect of Auger recombination on transient optical properties in XUV and soft X-ray irradiated silicon nitride
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Link:
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Autor/in:
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Tkachenko, V.
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Lipp, V.
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Büscher, M.
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Capotondi, F.
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Höppner, H.
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Medvedev, N.
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Pedersoli, E.
Prandolini, M.J.
Rossi, G.M.
Tavella, F.
Toleikis, S.
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Erscheinungsjahr:
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2021
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Medientyp:
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Text
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Schlagworte:
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Free Electron Lasers
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Wigglers
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X-Ray Laser
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Beams (Radiation)
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Accelerators
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Free Electron Lasers
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Wigglers
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X-Ray Laser
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Beams (Radiation)
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Accelerators
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Lizenz:
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info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
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Quellsystem:
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Forschungsinformationssystem der UHH
Interne Metadaten
- Quelldatensatz
- oai:www.edit.fis.uni-hamburg.de:publications/acee9ace-d8cd-4d28-9753-d7434572fa6a