Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?

Link:
Autor/in:
Verlag/Körperschaft:
IEEE
Erscheinungsjahr:
2024
Medientyp:
Text
Schlagworte:
  • Cyber Physical Test System (CPTS)
  • Embedded Systems
  • Open Access
  • Automatic Test Equipment (ATE)
  • Test Program Set (TPS)
  • Field Programmable Gate Array (FPGA)
  • 620: Ingenieurwissenschaften
  • ddc:620
Beschreibung:
  • Bundesministerium für Bildung und Forschung
  • PeerReviewed
Quellsystem:
ReposIt
Interne Metadaten
Quelldatensatz
oai:reposit.haw-hamburg.de:20.500.12738/16726