Autor/in Falkenberg, G. 1 Garrevoet, J. 1 Kahnt, M. 1 Scholz, M. 1 Schroer, Christian Gustav 1 Schropp, A. 1 Seiboth, F. Seyrich, M. 1 Wittwer, F. alle zeigenListe einklappen
Quantitative characterization of aberrations in x-ray optics Seiboth, F. Kahnt, M. Scholz, M. Seyrich, M. Wittwer, F. Garrevoet, J. Falkenberg, G. 2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
