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1. Planar refractive lenses made of SiC for high intensity nanofocusing

   1. Lyubomirskiy, M.
   2. Schurink, B.
   3. Makhotkin, I.A.
   4. Brueckner, D.
   5. Wittwer, F.
   6. Kahnt, M.
   7. Seyrich, M.

   2021 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Single-pulse phase-contrast imaging at free-electron lasers in the hard X-ray regime

   1. Hagemann, J.
   2. Vassholz, M.
   3. Hoeppe, H.
   4. Osterhoff, M.
   5. Rosselló, J.M.
   6. Mettin, R.
   7. Seiboth, F.

   2021 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
3. Perfect X-ray focusing via fitting corrective glasses to aberrated optics

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Aberration correction for hard x-ray focusing at the nanoscale

   1. Seiboth, F.
   2. Schropp, A.
   3. Scholz, M.
   4. Wittwer, F.
   5. Rödel, C.
   6. Wünsche, M.
   7. Ullsperger, T.

   2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
5. Bragg coherent x-ray diffractive imaging of a single indium phosphide nanowire

   1. Dzhigaev, D.
   2. Shabalin, A.
   3. Stankevi?, T.
   4. Lorenz, U.
   5. Kurta, R.P.
   6. Seiboth, F.
   7. Wallentin, J.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
6. Quantitative characterization of aberrations in x-ray optics

   1. Seiboth, F.
   2. Kahnt, M.
   3. Scholz, M.
   4. Seyrich, M.
   5. Wittwer, F.
   6. Garrevoet, J.
   7. Falkenberg, G.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
7. Hard x-ray nanofocusing by refractive lenses of constant thickness

   1. Seiboth, F.
   2. Scholz, M.
   3. Patommel, J.
   4. Hoppe, R.
   5. Wittwer, F.
   6. Reinhardt, J.
   7. Seidel, J.

   2014 - Forschungsinformationssystem der UHH