Autor/in Hahn, M Amling, M 1 Bishop, N 1 Busse, Björn 1 Delling, G 1 Jobke, B 1 Katzer, A 1 Krause, M 1 Morlock, M M 1 Niecke, M 1 Püschel, Klaus 1 Rüther, W 1 Sauter, G 1 Stahmer, F 1 Zustin, J 1 alle zeigenListe einklappen
Allocation of nonbirefringent wear debris: darkfield illumination associated with PIXE microanalysis reveals cobalt deposition in mineralized bone matrix adjacent to CoCr implants. Busse, Björn Hahn, M Niecke, M Jobke, B Püschel, Klaus Delling, G Katzer, A 2008 - Forschungsinformationssystem des UKE
Reasons for failure of hip resurfacing implants. A failure analysis based on 250 revision specimens, Versagensgründe von Oberflächenersatzimplantaten der Hüfte. Eine Analyse von 250 Revisionspräparaten Morlock, M M Bishop, N Stahmer, F Zustin, J Sauter, G Hahn, M Krause, M 2008 - Forschungsinformationssystem des UKE