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- Text 316
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- Deutsch 203
- Englisch 112
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316 Einträge gefunden
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X-ray interface characterization of buried InAs layers on GaAs (001)
1999 - Forschungsinformationssystem der UHH -
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Growth of thin Mn films on W(110) studied by means of in-situ scanning tunnelling microscopy
1999 - Forschungsinformationssystem der UHH -
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Time-domain high-finesse atom interferometry
1999 - Forschungsinformationssystem der UHH -
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