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- Text 5
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Autor/in
- Fretwurst, E. 5
- Klanner, Robert 5
- Poehlsen, T.
- Schwandt, Jörn 5
- Zhang, J. 5
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Sprache
- Englisch 5
5 Einträge gefunden
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Study of the accumulation layer and charge losses at the Si-SiO2 interface in p+n-silicon strip sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Design of the AGIPD sensor for the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Charge losses in segmented silicon sensors at the Si-SiO2 interface
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Time dependence of charge losses at the Si-SiO2 interface in p +n-silicon strip sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of X-ray radiation damage in silicon sensors
2011 - Forschungsinformationssystem der UHH