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- Text 6
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Autor/in
- Bajt, Saša
- Chapman, Henry N.
- Bohne, Sven 3
- Trieu, Hoc Khiem 3
- Heymann, Michael 2
- alle zeigen
Sprache
- Englisch 6
6 Einträge gefunden
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Precise wavefront characterization of x-ray optical elements using a laboratory source
- Dresselhaus, J. Lukas
- Fleckenstein, Holger
- Domaracký, Martin
- Prasciolu, Mauro
- Ivanov, Nikolay
- Carnis, Jerome
- Murray, Kevin T.
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Numerical Simulation of Heat Load for Multilayer Laue Lens under Exposure to XFEL Pulse Trains
2022 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich -
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Ptychographic X-ray speckle tracking
2020 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich -
3D printed nozzles on a silicon fluidic chip
2019 - TUHH Open Research - frei zugänglich -