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1. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: Application to rough and natural surfaces

   1. Kaupp, Gerd
   2. Avouris, Phaedon
   3. Bhushan, Bharat
   4. Von Klitzing, Klaus
   5. Sakaki, Hiroyuki
   6. Wiesendanger, Roland

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