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1. Friction in the Low-Load Regime: Studies on the Pressure and Direction Dependence of Frictional Forces by Means of Friction Force Microscopy

   1. Schwarz, U. D.
   2. Bluhm, H.
   3. Hölscher, H.
   4. Allers, W.
   5. Wiesendanger, R.

   1996 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Issues of atomic‐resolution structure and chemical analysis by scanning probe microscopy and spectroscopy

   1. Wiesendanger, R.
   2. Bode, Matthias
   3. Pascal, R.
   4. Allers, W.
   5. Schwarz, U. D.

   1996 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. Simulation of a scanned tip on a NaF (001) surface in friction force microscopy

   1. Hölscher, H.
   2. Schwarz, U. D.
   3. Wiesendanger, R.

   1996 - Forschungsinformationssystem der UHH
4. Quantitative analysis of lateral force microscopy experiments

   1. Schwarz, U. D.
   2. Köster, P.
   3. Wiesendanger, R.

   1996 - Forschungsinformationssystem der UHH