Aktive Facetten Technische Universität Hamburg Hein, Matthias Pohlner, Jürgen Schwanke, Dieter Uhlig, Peter
Autor/in Drüe, Karl-Heinz 2 Hein, Matthias Kulke, Reinhard 2 Müller, Jens 2 Perrone, Rubén Ariel 2 Pohlner, Jürgen Reppe, Günter 2 Schwanke, Dieter Stephan, Ralf 2 Uhlig, Peter Trabert, Johannes 1 Trabert, Johannes F. 1 alle zeigenListe einklappen
Comparison of high-resolution patterning technologies for LTCC microwave circuits Müller, Jens Perrone, Rubén Ariel Drüe, Karl-Heinz Stephan, Ralf Trabert, Johannes F. Hein, Matthias Schwanke, Dieter 2007 - TUHH Open Research
Comparison of high resolution patterning technologies for LTCC microwave circuits Müller, Jens Perrone, Rubén Ariel Drüe, Karl-Heinz Stephan, Ralf Trabert, Johannes Hein, Matthias Schwanke, Dieter 2007 - TUHH Open Research
