Autor/in Bismayer, Ulrich Gierlotka, Stanislaw Grzanka, Ewa 1 Jóvári, P. 1 Neuefeind, J. 1 Palosz, Bogdan F. 1 Palosz, W. Pielaszek, Roman Stelmakh, Svetlana 1 alle zeigenListe einklappen
X-ray powder diffraction study of atomic structure of nanocrystalline SiC and diamond materials Grzanka, Ewa Palosz, Bogdan F. Gierlotka, Stanislaw Stelmakh, Svetlana Pielaszek, Roman Bismayer, Ulrich Neuefeind, J. 2004 - Forschungsinformationssystem der UHH
