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- Text 11
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Autor/in
- Fretwurst, E.
- Klanner, Robert 10
- Schwandt, Jörn 9
- Zhang, J. 9
- Pintilie, I. 4
- alle zeigen
Sprache
- Englisch 11
11 Einträge gefunden
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Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
The AGIPD system for the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Design of the AGIPD sensor for the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Challenges for silicon pixel sensors at the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Charge losses in segmented silicon sensors at the Si-SiO2 interface
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of the accumulation layer and charge losses at the Si-SiO2 interface in p+n-silicon strip sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
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Design and first tests of a radiation-hard pixel sensor for the European X-ray free-electron laser
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Time dependence of charge losses at the Si-SiO2 interface in p +n-silicon strip sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Radiation damage in n-type silicon diodes after electron irradiation with energies between 1.5 MeV and 15 MeV
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH