2 Einträge gefunden

1. Precise wavefront characterization of x-ray optical elements using a laboratory source

   1. Dresselhaus, J. Lukas
   2. Fleckenstein, Holger
   3. Domaracký, Martin
   4. Prasciolu, Mauro
   5. Ivanov, Nikolay
   6. Carnis, Jerome
   7. Murray, Kevin T.

   2022 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich
2. Ptychographic X-ray speckle tracking

   1. Morgan, Andrew J.
   2. Quiney, Harry M.
   3. Bajt, Saša
   4. Chapman, Henry N.

   2020 - Forschungsinformationssystem der UHH - frei zugänglich