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1. Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH

   1. Dziarzhytski, Siarhei
   2. Siewert, Frank
   3. Sokolov, Andrey
   4. Gwalt, Grzegorz
   5. Seliger, Tino
   6. Rübhausen, Michael
   7. Weigelt, Holger

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