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1. Asymmetric skew X-ray diffraction at fixed incidence angle: Application to semiconductor nano-objects

   1. Grigoriev, Daniil
   2. Lazarev, Sergey
   3. Schroth, P.
   4. Minkevich, A. A.
   5. Köhl, M.
   6. Slobodskyy, T.
   7. Helfrich, M.

   2016 - Forschungsinformationssystem der UHH
2. Investigation of buried quantum dots using grazing incidence X-ray diffraction

   1. Schroth, P.
   2. Slobodskyy, Taras
   3. Grigoriev, D.
   4. Minkevich, A.
   5. Riotte, M.
   6. Lazarev, S.
   7. Fohtung, E.

   2012 - Forschungsinformationssystem der UHH
3. A portable molecular beam epitaxy system for in situ x-ray investigations at synchrotron beamlines

   1. Slobodskyy, Taras
   2. Schroth, P.
   3. Grigoriev, D.
   4. Minkevich, A. A.
   5. Hu, D. Z.
   6. Schaadt, D. M.
   7. Baumbach, T.

   2012 - Forschungsinformationssystem der UHH