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- Text 4
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- Fretwurst, E.
- Klanner, Robert 4
- Pintilie, I.
- Schwandt, Jörn 3
- Zhang, J. 3
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Sprache
- Englisch 4
4 Einträge gefunden
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Challenges for silicon pixel sensors at the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Radiation damage in n-type silicon diodes after electron irradiation with energies between 1.5 MeV and 15 MeV
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH