Autor/in Bakucz, Peter 1 Buchholz, Ivesa 1 Buttgenbach, Stephanus 1 Fleischer, Jürgen 1 Krah, Thomas 1 Kranzmann, Axel Krüger-Sehm, Rolf 1 Ritter, Martin Viering, Benjamin Weckenmann, Albert 1 Wiedenhöfer, Thomas 1 alle zeigenListe einklappen
Trends in development of standards for micro-and nanometrology: Chances and challenges Weckenmann, Albert Wiedenhöfer, Thomas Buttgenbach, Stephanus Krah, Thomas Fleischer, Jürgen Buchholz, Ivesa Viering, Benjamin 2008 - TUHH Open Research
