Autor/in Duine, Rembert A. 1 Frömter, Robert 1 Kloodt-Twesten, Fabian 1 Koopmans, Bert 1 Lavrijsen, Reinoud 1 Lucassen, Juriaan 1 Oepen, Hans Peter 1 Swagten, Henk J. M. alle zeigenListe einklappen
Scanning electron microscopy with polarization analysis for multilayered chiral spin textures Lucassen, Juriaan Kloodt-Twesten, Fabian Frömter, Robert Oepen, Hans Peter Duine, Rembert A. Swagten, Henk J. M. Koopmans, Bert 2017 - Forschungsinformationssystem der UHH
