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Erscheinungsjahr
- 2018 1
Autor/in
- Bruckner, Dennis
- Fleig, Jürgen. 1
- Keller, Thomas F.
- Lyubomirskiy, Mikhail 1
- Navickas, Edvinas 1
- alle zeigen
Sprache
- Englisch 1
1 Einträge gefunden
-
Hard X-ray Resonant Ptychography for Chemical Imaging at the Sensitivity Limit:Proceedings of the 14th International Conference on X-ray Microscopy (XRM2018)
- Reinhardt, Juliane
- Schropp, Andreas
- Lyubomirskiy, Mikhail
- Seyrich, Martin
- Bruckner, Dennis
- Keller, Thomas F.
- Vonk, Vedran