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- Bruckner, Dennis 1
- Fleig, Jürgen. 1
- Keller, Thomas F. 1
- Lyubomirskiy, Mikhail
- Navickas, Edvinas 1
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1 Einträge gefunden
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Hard X-ray Resonant Ptychography for Chemical Imaging at the Sensitivity Limit:Proceedings of the 14th International Conference on X-ray Microscopy (XRM2018)
- Reinhardt, Juliane
- Schropp, Andreas
- Lyubomirskiy, Mikhail
- Seyrich, Martin
- Bruckner, Dennis
- Keller, Thomas F.
- Vonk, Vedran