Autor/in Drüe, Karl-Heinz Hein, Matthias 1 Kutscher, C. 1 Müller, Jens 1 Perrone, Rubén Ariel 1 Pohlner, Jürgen 1 Reppe, Günter 1 Schwanke, Dieter 1 Stephan, Ralf Thust, Heiko 1 Trabert, Johannes 1 alle zeigenListe einklappen
Technology benchmarking of high resolution structures on LTCC for microwave circuits Müller, Jens Perrone, Rubén Ariel Thust, Heiko Drüe, Karl-Heinz Kutscher, C. Stephan, Ralf Trabert, Johannes 2006 - TUHH Open Research
