Autor/in Boehnert, T. 1 Gooth, Johannes Heiderich, S. 1 Heimann, S. Nielsch, Kornelius Schulz, S. 1 Toellner, William Zastrow, Sebastian 1 alle zeigenListe einklappen
Thermoelectric transport and Hall measurements of low defect Sb2Te3 thin films grown by atomic layer deposition Zastrow, Sebastian Gooth, Johannes Boehnert, T. Heiderich, S. Toellner, William Heimann, S. Schulz, S. 2013 - Forschungsinformationssystem der UHH
