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Medientyp
- Text 1
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Erscheinungsjahr
- 2012 1
Autor/in
- Fretwurst, E. 1
- Klanner, Robert
- Pintilie, I. 1
- Schwandt, Jörn 1
- Turcato, M.
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Sprache
- Englisch 1
1 Einträge gefunden
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Investigation of X-ray induced radiation damage at the Si-SiO2 interface of silicon sensors for the European XFEL
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