Facetten
Zugriff
Einrichtung
Medientyp
- Text 9
Karte
Erscheinungsjahr
Autor/in
- Fretwurst, E. 9
- Klanner, Robert 9
- Schwandt, Jörn 9
- Zhang, J.
- Poehlsen, T. 4
- alle zeigen
Sprache
- Englisch 9
9 Einträge gefunden
-
Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Time dependence of charge losses at the Si-SiO2 interface in p +n-silicon strip sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of high-dose X-ray radiation damage of silicon sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Charge losses in segmented silicon sensors at the Si-SiO2 interface
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Study of the accumulation layer and charge losses at the Si-SiO2 interface in p+n-silicon strip sensors
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
-
Challenges for silicon pixel sensors at the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Design and first tests of a radiation-hard pixel sensor for the European X-ray free-electron laser
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Design of the AGIPD sensor for the European XFEL
2013 - Forschungsinformationssystem der UHH