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- Text 6
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Autor/in
- Scholz, M.
- Wittwer, F.
- Schropp, A. 4
- Seiboth, F. 4
- Bartha, J.W. 2
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Sprache
6 Einträge gefunden
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Focusing hard x rays beyond the critical angle of total reflection by adiabatically focusing lenses
2017 - Forschungsinformationssystem der UHH -
PtyNAMi: Ptychographic nano-analytical microscope at PETRA III - Interferometrically tracking positions for 3D x-ray scanning microscopy using a ball-lens retroreflector
2017 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Aberration correction for hard x-ray focusing at the nanoscale
2017 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Perfect X-ray focusing via fitting corrective glasses to aberrated optics
2017 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Quantitative characterization of aberrations in x-ray optics
2016 - Forschungsinformationssystem der UHH -
Hard x-ray nanofocusing by refractive lenses of constant thickness
2014 - Forschungsinformationssystem der UHH